Microscopie FT-IR

Microanaliza

Analize microscopice IR si Raman

Microanaliza spectroscopica moleculara este utilizata pentru a obtine informatii despre compozitia chimica a probei impreuna cu imaginea vizuala amplificata. Diametrul probelor care pot fi masurata cu microscopia IR si Raman variaza intre 50 μm si 1 cm. Rezolutia laterala obtinuta depinde de tehnica de masurare utilizata si de lungimea de unda a luminii care se absoarbe, respectiv se imprastie pe proba.

Rezolutiile tipice pentru diferite tehnici de masurare:

Ø Microscopia FT-IR (seria HYPERION): ~5-10 μm;

Ø Imagistica FT-IR (HYPERION 3000): ~1-5 μm;

Ø Microscopia FT-Raman (RAMANScopeIII): ~5 μm;

Ø Microscopia Raman dispersiva (SENTERRA): ~1 μm.

Aplicatii tipice ale microscopiei FT-IR si Raman:

Ø Analiza particulelor;

Ø Determinarea chimica a defectelor si contaminantilor din diferite probe;

Ø Analiza omogenitatii si identificarea depunerilor pe probe;

Ø Analiza chimica a straturilor individuale dintr-o matrice multi-strat (ex. polimeri stratificati, urme de vopsea);

Ø Determinarea distributiei unor compusi intr-un amestec heterogen complex (ex. tesuturi biologice, tablete, polimeri).

Pentru realizarea masuratorilor de particule si defecte se recomanda utilizarea unui microscop FT-IR din seria HYPERION. Pentru analiza amanuntita a polimerilor stratificati sau a urmelor de vopsea, echipamentului ideal este microscopul FT-IR sau Raman. Materialele anorganice pot fi analizate in cel mai simplu mor cu ajutorul microscopului Raman. Pentru a determina rapid distributia diferitilor compusi dintr-o matrice complexa, imagistica FT-IR este metoda ideala (HYPERION 3000).

Ca si in masuratorile macroscopice IR, modurile de masurare: transmisie, reflexie si reflexie total atenuata (ATR) pot fi efectuate pentru microscopia IR. Intrucat tehnica ATR pentru masurarea simpla si rapida a probelor ne-transparente si ne-reflective fara o metoda de prepare prealabila a probei, aceasta metoda este freventa utilizata si in cazul microscopiei IR. Pentru microscopul HYPERION este disponibil un obiectiv ATR extrem de puternic, care permite inspectia probei cu o calitate vizuala foarte mare, remarcandu-se sensibilitatea exceptionala a masuratorii IR.

Straturile foarte subtiri de pe suprafetele reflective sunt masurate cu tehnica GIR (reflexie de incidenta razanta). Pentru acest tip de masuratori, microscopul HYPERION se echipeaza cu obiectiv unghi razant (GAO) care permite chiar si analiza sub-monostraturilor.