Analize de Suprafata si Studiul Materialelor

Analize de Suprafata si Studiul Materialelor

Straturile ultra-subtiri (de exemplu, monostraturile) de pe suprafetele metalice sunt masurate prin metoda IRRAS (spectrometrie de absorbtie-reflexie in infrarosu) cu unghi de incidenta razant. Pe suprafetele dielectrice (de exemeplu, sticla, semiconductori, etc) unghiul de incidenta ideal poate fi diferit si in unele cazuri, metoda adecvata de analiza este spectrometria de transmisie. Pentru absorbtia straturilor ultra –subtiri cu ordin de marime standard de 10^-3-10^-4, detectarea unor astfel de semnale slabe impune spectrometriei FT-IR furnizarea unui raport semnal/zgomot mare intr-un timp de achizitie scurt.

Intrucat vaporii de apa si CO₂ se absorb in infrarosu mijlociu si indepartat, absorbtia acestor straturi ultra-subtiri poate interfera cu probele cu emisii situate in acelasi domeniu spectral.

Pentru a obtine cele mai bune rezultate, spectrometrul FT-IR trebuie sa fie capabil sa retina interferenta vaporilor de apa la un nivel minim. Alte cerinte importante in spectrometria FT-IR pentru analizele de suprafata include domeniul dinamic mare al convertorului analog/digital (ADC, de 24 biti pentru toatele modelele Bruker Optics) si valoarea scazuta a frecventei liniei de baza.

Spectrometre FT-IR Bruker Optics care satisfac toate aceste cerinte:

Ø Seria TENSOR: Spectrometru FT-IR in configuratie economica cu excelent design de purjare;

Ø Seria VERTEX R&D: VERTEX 70(70v) - modele de varf si VERTEX 80(80v) – spectrometre FT-IR (vacuum) de ultima generatie.

Accesorii Bruker Optics dedicate aplicatiilor analizei de suprafata:

Ø PMA 50: Accesoriu de polarizare pentru masuratori PM-IRRAS si VCD (dicroism circular vibrational), compatibil cu seria TENSOR si VERTEX

Ø Accesoriu de spectrometrie infrarosu pentru determinarea interfetei Aer/Apa;

Ø O gama larga de accesorii pentru compartimentul probei: ATR, transmitanta, reflectanta speculara si reflectanta difuza;

Ø Interfatarea camerelor UHV externe cu spectrometrele de cercetare-dezvoltare pentru analiza in-situ a straturilor ultra-subtiri;

Ø Microscop FT-IR HYPERION;

Ø Sisteme Raman dispersive si FT-Raman.